UNIWERSYTET ŁÓDZKI - Centralny System Uwierzytelniania
Strona główna

Wprowadzenie do mikroskopii sondy skanującej. Wykład do wyboru.

Informacje ogólne

Kod przedmiotu: 1600-ZLCW5WMSS
Kod Erasmus / ISCED: (brak danych) / (brak danych)
Nazwa przedmiotu: Wprowadzenie do mikroskopii sondy skanującej. Wykład do wyboru.
Jednostka: Wydział Chemii
Grupy:
Punkty ECTS i inne: 0 LUB 2.00 (w zależności od programu) Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:
  • roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
  • tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
  • 1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
  • tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
  • nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.
zobacz reguły punktacji
Język prowadzenia: (brak danych)
Wymagania wstępne:

• pozyskuje i wykorzystuje informacje z różnych źródeł

• ocenia wiarygodność pozyskanych informacji

• podejmuje się rozwiązywania problemów

• posiada analityczne myślenie

• wykorzystuje narzędzia informatyczne do opracowywania przeprowadzania obliczeń i przygotowania referatów (pakiet Ms Office)
Skrócony opis:

Celem wykładu jest zapoznanie studentów z nowoczesną techniką pomiarową - z Mikroskopią Sondy Skanującej (SPM). Wykład omawia podstawy teoretyczne, zasady działania, budowę najważniejszych elementów wchodzących w skład mikroskopów z sondą skanującą m.in. skaningowego mikroskopu tunelowego (STM), mikroskopu sił atomowych (AFM), opisuje pracę w różnych środowiskach. Przedstawia również możliwości pomiarowe oraz zastosowania mikroskopów w badaniach różnorodnych materiałów.
Efekty uczenia się:

efekty przedmiotowe

obszar wiedzy

SPM _W01 zna podstawy teoretyczne podstawy teoretyczne i zasady działania mikroskopów z sondą skanującą (16C-1A_W01, 16C-1A_W02, 16C-1A_W08, 16C-1A_W10)

SPM _W02 zna budowę najważniejszych elementów wchodzących w skład mikroskopów z sondą skanującą (16C-1A_W01, 16C-1A_W02, 16C-1A_W08, 16C-1A_W10)

SPM _W03 opisuje możliwe środowiska pracy mikroskopów z sondą skanującą (16C-1A_W08)

SPM _W04 opisuje sondy pomiarowe stosowane w mikroskopach z sondą skanującą, zna metody ich otrzymywania i zasady ich doboru (16C-1A_W06, 16C-1A_W08, 16C-1A_W10)

SPM _W05 posiada wiedzę w zakresie zalet i ograniczeń mikroskopów z sondą skanującą (16C-1A_W02, 16C-1A_W08, 16C-1A_W10)

SPM _W06 Zna specjalistyczne słownictwo w języku angielskim stosowane w technikach SPM (16C-1A_W15)

obszar umiejętności

SPM _U01 umie sklasyfikować mikroskopy z sondą skanującą (16C-1A_U01, 16C-1A_U04)

SPM _U02 potrafi wybrać dany typ mikroskopu do pomiaru w zależności od rodzaju badanego materiału (16C-1A_U01, 16C-1A_U04)

SPM _U03 potrafi zaproponować odpowiednią sondę skanującą do pomiarów (16C-1A_U01, 16C-1A_U04)

SPM _U04 analizuje, interpretuje oraz opisuje uzyskane wyniki z mikroskopów z sondą skanującą (16C-1A_U01, 16C-1A_U04)

obszar kompetencji społecznych

SPM _K01 chętny jest do współpracy z innymi osobami (16C-1A_K03)

SPM _K02 argumentuje własne racje (16C-1A_K07)

SPM _K03 ma świadomość posiadania dobrej komunikacji werbalnej i niewerbalnej (16C-1A_K06)

Zajęcia w cyklu "Semestr zimowy 2022/2023" (zakończony)

Okres: 2022-10-01 - 2023-02-19
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Wykład, 16 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Andrzej Leniart
Prowadzący grup: Andrzej Leniart
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Przedmiot - Zaliczenie lub ocena
Wykład - Ocena zgodna z regulaminem studiów
Metody dydaktyczne:

Metoda słowno-podająca z elementami dyskusji wsparta prezentacją multimedialną.
Sposoby i kryteria oceniania:

Zaliczenie w formie testu (zaliczenie na minimum 60% wszystkich punktów) lub przygotowanie i zaprezentowanie referatu.
Metody weryfikacji i oceny stopnia osiągnięcia założonych efektów uczenia się:

Aktywny udział w zajęciach (dyskusja, grywalizacja) + obecność + zaliczenie pisemne (forma testu) lub referat na dany temat
Treści kształcenia:

1. Podstawy działania mikroskopów z sondą skanującą (SPM).

- Skaningowy mikroskop tunelowy (STM).

- Mikroskop sił atomowych (AFM).

- Inne typy SPM.

2. Zasadnicze elementy wchodzące w skład budowy mikroskopów SPM

3. Budowa, działanie i rodzaje skanerówst.

3. Sondy pomiarowe.

4. Środowiska pracy mikroskopów SPM.

5. Badane materiały.

6. Zalety i ograniczenia.
Literatura:

1. Samuel H. Cohen, Mona T. Bray, Marcia L. Lightbody Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer Science+Business Media New York 1994

2. Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka Applied Scanning Probe Methods. Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2004

3. Seizo Morita (ED.) Roadmap of Scanning Probe Microscopy. Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2007

4. Ernst Meyer, Hans Josef Hug, Roland Bennewitz Scanning Probe Microscopy. The Lab on a Tip. Springer-Verlag Berlin Heidelbaerg 2004

Zajęcia w cyklu "Semestr letni 2020/2021" (zakończony)

Okres: 2021-03-08 - 2021-09-30
Wybrany podział planu:
Przejdź do planu
Typ zajęć:
Wykład, 14 godzin więcej informacji
Koordynatorzy: Andrzej Leniart
Prowadzący grup: (brak danych)
Lista studentów: (nie masz dostępu)
Zaliczenie: Zaliczenie lub ocena
Metody dydaktyczne:

Metoda słowno-podająca z elementami dyskusji wsparta prezentacją multimedialną.
Sposoby i kryteria oceniania:

Zaliczenie w formie testu (zaliczenie na minimum 60% wszystkich punktów) lub przygotowanie i zaprezentowanie referatu.
Metody weryfikacji i oceny stopnia osiągnięcia założonych efektów uczenia się:

Aktywny udział w zajęciach (dyskusja, grywalizacja) + obecność + zaliczenie pisemne (forma testu) lub referat na dany temat
Treści kształcenia:

1. Podstawy działania mikroskopów z sondą skanującą (SPM).

- Skaningowy mikroskop tunelowy (STM).

- Mikroskop sił atomowych (AFM).

- Inne typy SPM.

2. Zasadnicze elementy wchodzące w skład budowy mikroskopów SPM

3. Budowa, działanie i rodzaje skanerówst.

3. Sondy pomiarowe.

4. Środowiska pracy mikroskopów SPM.

5. Badane materiały.

6. Zalety i ograniczenia.
Literatura:

1. Samuel H. Cohen, Mona T. Bray, Marcia L. Lightbody Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy. Springer Science+Business Media New York 1994

2. Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka Applied Scanning Probe Methods. Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2004

3. Seizo Morita (ED.) Roadmap of Scanning Probe Microscopy. Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2007

4. Ernst Meyer, Hans Josef Hug, Roland Bennewitz Scanning Probe Microscopy. The Lab on a Tip. Springer-Verlag Berlin Heidelbaerg 2004
Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest UNIWERSYTET ŁÓDZKI.
kontakt deklaracja dostępności mapa serwisu USOSweb 7.1.0.0-7